Microscópio polarizador de análise de fase mineral XPL-40

NegociávelAtualização em06/23

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Microscópio polarizador de análise de fase mineral XPL-40

Detalhes do produto

Utilização do produto

XPL-40Configuração de objetivos de campo plano sem estresse, melhor qualidade de imagem;Este instrumento utiliza as propriedades de polarização da luz para a identificação de materiais com dupla refração, o instrumento essencial para a observação de polarização única, observação de polarização ortogonal, observação de luz conica e microfotografia; Simultaneamente configurado com gessoλFilme, Mãe da Nuvemλ/4Acessórios como placas, pinças de quartzo e barras móveis são um novo conjunto de produtos com funcionalidades mais completasEm.É amplamente utilizado em muitas indústrias, como fibras químicas, indústria de semicondutores e inspeção de medicamentos.

Especificações do produto

Especificações				XPL-40
Sistema de vias ópticas	Comprimento de cilindro mecânico de 160 mm de distância limitada			●
Cabeça de observação	Cabeça dupla articulada, inclinação de 30°, visão ajustável			●
	Trióptero, inclinação de 30°, visão ajustável, fotografia 100% transparente
óculos	Óculos de divisão WF10X (Φ18mm) / WF10X			●
Objetivo sem distorção de campo plano(Slides sem tampa)	Magnificação	Diâmetro numérico (N.A.)	Distância de trabalho (W.D.)	●
	4×	0.1	19.8
	10×	0.25	8.8
	40×(S)	0.6	3.73
	60×(S)	0.75	1.34
Ampliar o múltiplo	40×-600×			●
Roda de Objetivo	Convertidor de objetos de quatro buracos			●
Estação de carregamento	Mesa de carregamento rotativa 360° (diámetro: Φ150 mm), ajustável no centro, com dispositivo de bloqueio, valor de barra de cursor6			●
Agência de Foco	Mecanismo coaxial grosso e micromóvel com bloqueio e limite de posição			●
	0,002 mm para o valor da micro-quadrilha, 30 mm para a faixa de foco
Dispositivo de polarização	Polarizador rotativo 360°, com quatro leituras 0, 90, 180 e 270, polarizador deslizante			●
Compensador	Placa de gesso λ, cloudmother λ/4, perseverança de quartzo			●
Lente intermediária	Inspetor incorporado, com possibilidade de trocar livremente entre a observação normal e a observação polarizada, com rotação de 360° na direção da polarização, com escala, valor do cursor 12, espelho Booster de empurramento, centro ajustável			●
Sistema de iluminação	Reflector NA.1.25, com barra de diámetro variável e barra de campo de visão ajustável, suporte de filtro colorido			●
	Captador de luz (iluminação halogênica aplicável), 6V / 20W halogênica, brilho ajustável
Acessórios atualizáveis	Óculos: WF16X (Φ11mm)			○
	Objetivo: 20 × / 50 × / 80 × / 100 × (seco)			○
	Método móvel: alcance móvel 30mmX25mm			○
	Estação de aquecimento de alta temperatura			○
	Sistema de imagem digital de alto pixel PUDA			○
	Software estatístico de análise de partículas			○
Nota: ● para equipamento padrão, ○ para acessórios atualizáveis

Conjunto de instrumentos

Conjunto de instrumentos
1 Equipamento anfitrião 1	4 óculos 2	1 suporte rotativo	Compensador 3 peças	1 fusível de reposição
(2) 1 conjunto de óculos	5 Divisão de óculos 1	1 conjunto de molas para peças de trabalho	1 cabo de energia padrão nacional	1 proteção contra poeira do instrumento
4 objetos	6 medição micrométrica 1 peça	9 Filtro de cores 2 peças	1 lâmpada de reposição	1 conjunto de arquivos de arquivos aleatórios

Configuração de aplicativos digitais

Sistema de câmera de computador XPL-40C		Câmera digital XPL-40D
⑴	XPL-40 Microscópio Tripolarizador	⑴	XPL-40 Microscópio Tripolarizador
⑵	Espelho adaptador CCD de alta qualidade	⑵	Espelho de atraso de câmera digital profissional
⑶	Câmera de microscópio com chip importado tipo USB PUDA 3 milhões (com chipset de alto desempenho APTINA dos EUA / comunicação de alta velocidade USB2.0, alta resolução, processamento de restauração de cores perfeito / tecnologia de renderização de cores patenteada Ultra-Fine)	⑶	Imagem digital de 10 megapixels (Nikon/Sony recomendada)
⑷	Software de imagem profissional ToupView

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